| Name: | Dr. Ralf Arnold |
| Anschrift: | Härtsfeldstr. 9/1 73432 Aalen |
| Tel.: | (07367) 920798 |
| Mobil: | (0160) 90828398 |
| Web: | www.arnolds.de |
| E-Mail: | ralf@arnolds.de |
| Persönliche Daten | |
| Geburtsdatum: | 1966 |
| Geburtsort: | Saalfeld (Saale) |
| Familienstand: | verheiratet keine Kinder |
| Staatsangehörigkeit: | Bundesrepublik Deutschland |
| Schulausbildung: | |
| 1972-1979 | Polytechnische Oberschule |
| 1979-1984 | Erweiterte Oberschule |
| Wehrdienst: | |
| 1984-1988 | Wehrdienst auf Zeit, Entlassung als Leutnant |
| Hochschulstudium: | |
| Dauer: | 1988-1993 |
| Fachrichtung: | Physik-Diplom |
| Hochschule: | Friedrich-Schiller-Universität Jena |
| Abschluß | Diplom-Physiker (Univ.) |
| Schwerpunkte: | angewandte und technische Optik |
| Diplomarbeit: | angefertigt auf dem Gebiet der optischen Meßtechnik |
| Thema: | "Theoretische und experimentelle Untersuchungen der physikalischen und technischen Grenzen bei der Messung geometrischer Größen mit dem Zweifrequenzlaserwegmeßsystem ZLM 300" |
| Promotion: | |
| Dauer: | 1997-2001 |
| Fachrichtung: | Chemie |
| Hochschule: | Ruhr-Universität Bochum |
| Abschluß | Doktor der Naturwissenschaften (Dr. rer. nat.) |
| Schwerpunkte: | Spektroskopie organischer Moleküle auf Oberflächen |
| Dissertation: | angefertigt auf dem Gebiet der Physikalischen Chemie |
| Thema: | "Struktur und Ordnung selbstordnender Monolagen aliphatischer und aromatischer Thiole auf Goldoberflächen" |
| Berufliche Tätigkeit: | |
| 1994-1997 | Produktentwickler, O.K.Tec GmbH, Jena |
| Inhalte: | Produktentwicklung, Vertrieb und Applikation Arbeiten auf dem Gebiet der UV/VIS/NIR-Spektroskopie |
| 1997-2001 | Wissenschaftlicher Mitarbeiter, Ruhr-Universität Bochum, Lehrstuhl für Physikalische Chemie I ( damals Prof. Ch. Wöll) |
| Inhalte: | Arbeiten auf dem Gebiet der Oberflächenphysik/-chemie - Self Assembled Monolayers (Herstellung und Untersuchung ultradünner Schichten) - Methoden: Infrarotspektroskopie (Hauptmethode), XPS, NEXAFS, LEED, TDS, AFM, STM |
| 2001- | Tätigkeit in der Carl Zeiss Gruppe (erst Entwickler, dann Projektleiter, aktuell Produktmanager) |
| Sonstiges: | |
| besondere Kenntnisse: |
optische Gitter
optische Spektroskopie (UV-VIS-NIR-MIR, IRRAS) oberflächensensitive Messtechnik (XPS, NEXAFS, LEED, TDS, AFM, STM) UHV-Technik Lichtwellenleiter (Eigenschaften und Anwendung) Interferometrie angewandte und technische Optik (optische Abbildungen, Kristalloptik) Außendiensterfahrung (Direktvertrieb analytischer Meßtechnik) Projektmanagement im Bereich High-End Optik |
| Veröffentlichungen: | siehe Liste der wissenschaftlichen und technischen Arbeiten |
Stand: 2015